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  • Park
    NX12
    AFM Specifications

规格

扫描器

Z扫描器

AFM 扫描头
柔性引导高推动力扫描器
扫描范围:15μm(可选 30μm)

SICM 扫描头
多层压电叠层驱动器驱动的柔性引导结构
扫描范围:15μm(可选 30μm)

XY 扫描器

闭环控制的柔性引导XY扫描器
扫描范围:100μm ×100μm

驱动台

XY 驱动台行程范围: 50 mm x 50 mm Z 驱动台行程范围: 25 mm 聚焦驱动台行程范围: 15 mm

影像

样品表面和悬臂的直观同轴影像
视野: 840 μm × 630 μm (10倍物镜)
摄像头: 5 M Pixel (默认), 1M Pixel (可选)

物镜
10倍 (NA. 0.23) 超长工作距离镜头
20倍 (NA. 0.35) 高分辨率,长工作距离镜头

电子

信号处理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 扫描器位置传感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 扫描器定位

集成功能
3通道数字锁相放大器 弹性系数校准(热方法) 数据Q 控制

选项/模式

标准成像: 真正的非接触模式, 接触模式, 侧向摩擦力显微术(LFM), 相位成像模式, 轻敲模式, Pinpoint™模式:Pinpoint成像

化学性能: 扫描电化学池显微镜(SECCM), 扫描电化学显微镜(SECM), 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜(EC-STM), 功能化探针的化学力显微镜

介电/压电性能: 静电力显微镜, 动态接触式静电力显微镜(EFM-DC), 压电力显微镜 (PFM), 高电压PFM

力测量: 力-距离(F-D)光谱, 力谱成像

磁性能: 磁力显微镜(MFM), 可调外加磁场MFM

热性能: 扫描热显微镜(SThM)

电性能: 导电AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 导电AFM, I-V谱线, 扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM), 高电压SKPM, QuickStep™扫描电容显微镜(SCM), 扫描电阻显微镜(SSRM), 扫描隧道显微镜(STM), 扫描隧道光谱(STS), 光电流测绘(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)

机械性能: Pinpoint™纳米力学模式, 力调制显微镜(FMM), 纳米压痕, 纳米刻蚀, 高电压纳米刻蚀, 纳米操纵

软件

Park SmartScan™
AFM系统控制和数据采集的专用软件自动模式的快速设置和简易成像手动模式的高级使用和更精密的扫描控制

XEI
AFM数据分析软件独立设计-可独立安装和分析数据能够生成采集数据的3D绘制

配件

控温台
手套箱* 
磁场发生器
液态选项
隔音罩


Dimensions in mm

Park NX12 - Technical Info | Park Atomic Force Microscope