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Lectures

30, Apr 21'
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La microscopía de fuerza de sonda Kelvin de banda lateral (KPFM) utiliza la intermodulación de una fuerza impulsora electrostática y una fuerza impulsora mecánica para co...
26, Mar 21'
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​ ​ SmartScan™ Autoモードは、イメージングに必要なすべての操作を自動的に実行し、最適な画質とスキャン速度をすべて自律的に賢く判断することで時間とコストの削減ができ、より効率的に研究結果を得ることができます。 SmartScan のAuto機能は、(a)データのピクセル数 (b)スキャンサイズ (c)クオ...
18, Feb 21'
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Join us as the technical services engineer at Park Systems, explain the basics of SECCM and quantitative electroanalysis at the nanoscale using the Park NX12 AFM System. ...
22, Apr 21'
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18, Mar 21'
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9, Mar 21'
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Join us as the technical services engineer at Park Systems, explain the basics of SECCM and quantitative electroanalysis at the nanoscale using the Park NX12 AFM System. ...
4, Mar 21'
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23, Feb 21'
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      Surface Potential Imaging via Sideband KPFM   REGISTER NOW Thursday, 23 February, 2021 11:00 am (PKT) Islamabad, Pakis...
18, Dec 20'
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​ ​ ナノテクノロジーは、原子および分子スケールでの物質の操作に基づく最新の研究分野の一つです。ナノ構造の進歩に起因するイノベーションは、研究と産業において多くの技術的な進歩をもたらし、研究の幅を広げるのにも貢献しています。 AFMは表面形状の定量測定のみならず、Force -Distanceカーブを使って探針と試料表...

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope