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日本の新年度、新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナを実施中ですが、前回に引き続き電気特性に関するアプリケーションをご紹介します。第16回で3種類の形状測定モードをご紹介しましたが、電気特性は検出したい信号によって、ベースとなる形状測定モードが異なります。例えば、コンダクティブAFM(電流測定)ならベースはコンタクトモード、表面電位測定ならベースはノンコンタクトモードとなります。内容は、STM(トンネル顕微鏡)、静電気力顕微鏡、表面電位、圧電応答、電流測定、拡がり抵抗、キャパシタンス顕微鏡、フォトカレント、磁気力顕微鏡の原理を初心者向けに、スペクトロスコピーやそれぞれのモードによる測定結果について、プローブの選び方など、今回も盛りだくさんですが分かり易く説明いたします。

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope