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AFM(Atomic Force Microscopy)은 탐침과 시료 표면 원자 간의 상호작용력을 측정하여 시료 표면의 형상 뿐만 아니라 전기적, 자기적, 역학적, 광학적 및 열적 특성들을 관찰할 수 있게 해줍니다. 이처럼 다양한 범위의 특성을 나노 스케일에서 측정하기 때문에 AFM은 현재 여러 분야에 널리 활용되고 있습니다. 이번 웨비나에서는 PinPoint 모드에서 기본이 되는 F/d spectroscopy의 이론 및 측정 방법에 대하여 소개할 예정입니다. F/d spectroscopy는 탐침을 수직으로 이동시켜 시료 표면과 접촉함으로써 시료의 탄성변형을 통하여 탄성계수, 변형 및 접착력과 같은 시료의 역학적 특성을 측정할 수 있습니다. 또한, 측정을 시작하기 전에 캔틸레버를 calibration 하여 Young’s modulus, adhesion force와 같은 특성들의 정량적인 수치를 얻을 수 있습니다. 더 나아가 PinPoint 모드는 측정 영역의 각 픽셀에서 얻은 Force-distance 데이터를 기반으로 한 이미징 모드로 시료의 역학적 특성들을 시료 표면 형상과 함께 이미지로 확인할 수 있습니다. 마지막으로 C-AFM, PFM 등 AFM 응용 모드와 PinPoint 모드를 융합하여 시료의 역학적 특성 이외에도 전기적, 광학적 등 다양한 특성들을 함께 측정한 예시들을 다루고자 하니, 많은 관심과 참가 바랍니다.

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope