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​ 生産ライン用全自動AFMで有名なパーク・システムズ社ですが、実は研究用のAFMでも高いパフォーマンスを発揮できることについて、まだ日本国内においては周知とは言えません。そこで今回は、弊社の研究用AFMの能力についてひも解き、説明させていただきます。 例えば基本の形状測定ですが、Z方向のスケールと分解能は最大30umから原子レベルまであり、測長の精度を考えると、どのような表面凹凸においてもX,Y,Zピエゾスキャナの較正値は、同時に正確でなくてはなりません。 具体的に言うと、角度測定と球体の測定は、3軸同時に、しかもZ軸はX,Y方向のスキャナと分離している必要があります。正確なクローズドループ制御でX,Y軸100um、Z軸標準15um(最大 30um)の動作領域を持つスキャナは、他に類をみません。 今回のウェビナーでは、製品の魅力をお届けしたいと思います。皆様のご参加を心よりお待ちしております。

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope