2020年9月24日*星期四
北京时间东八区上午9点到下午6点
*Note: This webinar will be presented in Mandarin /中文
导电原子力显微镜（C-AFM）是在扫描探针显微镜（SPM）基础上扩展的一种电学测试模式，它可以同时实现在纳米级对样品（比如：介质材料、量子点、电子器件）表面形貌和局部电学性质的表征和测试。C-AFM 技术在纳米电子学、半导体材料等领域广泛应用，主要用于表征样品/器件的缺陷分布、电导率局部变化、局部电学行为等。本报告将重点围绕C-AFM在忆阻型电子器件中的电学表征，介绍不同环境（大气和真空状态）下测试结果的可靠性，以及通过使用基于C-AFM技术的不同手段来直接观测导电细丝的形成以进一步探索阻变机理。
主讲人：
惠飞，以色列理工学院，博士后研究员
惠飞博士，现以色列理工学院博士后研究员，2018年获得巴塞罗那大学和苏州大学双博士学位。在攻读博士期间，她曾先后到世界顶级名校美国麻省理工学院和英国剑桥大学进行为期12个月和6个月的访学。在科研方面，截止目前，共参与发表SCI期刊学术论文45篇。其中，一作论文13篇，包括顶级期刊Nature Electronics, Advanced Functional Materials, ACS Applied Materials & Interfaces, 2D Materials, Nanoscale等，谷歌学术论文总引用次数为1353次。参与德国Wiley出版的专著篇章一部，获国家授权发明专利两项，申请国际专利两项。担任Sensors, Electronics, Nanotechnology等期刊专刊的编委会成员、多个IEEE会议（2021 IEEE-EDTM，2021 IEEE-IPFA, 2020 IEEE-IRPS, 2020 IEEE-IIRW）的技术/宣传委员会成员、以及国际期刊审稿人。曾获得英国皇家化学会学者奖学金、2019 Park AFM博后奖学金、国家奖学金等。她的主要研究领域是基于二维材料的电子器件及其在纳米级的电学行为表征。