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このウェビナーでは、KPFMテクニックの詳細と利点について 、使い勝手良さデモンストレーションと併せてご覧いただきます。

 
 

半導体薄膜のエネルギー準位と電荷輸送研究のためのケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)

 

2021年9月24日 金曜日
4:00 pm – 4:45 pm (JST)
東京 日本
※This Webinar will be presented in English with JPN Subtitles

 

 

原子間力顕微鏡(AFM)は、幅広い科学分野の研究に不可欠なツールとなってきています。AFMは、他の顕微鏡技術に比べて解像度が高く、様々な試料に適用できるため、界面での材料特性を調べたり、生物材料とそのプロセス学 を研究したり、物性物理における材料の基本特性 を理解するのに理想的な手段でもあります。

AFMは解像度が高いため、おもに構造や形状評価のために 使われていますが、AFMでできることはトポグラフィー測定 だけではありません。探針が試料表面に近づくと、材料特性に関連して、探針―試料間の相互作用力は局所的に敏感に働きます。この特性に関連する相互作用力は、形状情報とリンクして、かつ定量的に評価することができます。

AFMの応用モードの 一つであるケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)を使用すると、試料表面の電位に関するデータを取得できます。KPFMは、試料表面の構造特性や材料組成を電位差と相関させるための理想的な局所プローブ法であり、ナノエレクトロニクス およびオプトエレクトロニクス 、金属腐食、エネルギー貯蔵などの様々な分野での応用が可能です。

パーク・システムズは、NXシリーズのすべてのAFMシステムにデフォルトでシングルパス技術のサイドバンドKPFM を実装しています。この高度な測定方法 により、トポグラフィーと同時に高精度で定量的なポテンシャル のマッピングが可能です。

このウェビナーでは、KPFMテクニックの詳細と利点について 、使い勝手良さデモンストレーションと併せてご覧いただきます。

講演者 : 
Dr. Andrea Cerreta, Application Scientist
パーク・システムズ・ヨーロッパ、ドイツ

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Andrea Cerreta博士は、パーク・システムズ・ヨーロッパのアプリケーションサイエンティストであり、アプリケーション開発と学術部門のサポートに重点を置いています。彼はスイスのEcole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL) で物理学の博士号を取得した後、スイスのFribourg大学の固体物理学グループでさらに博士号を取得しました。このグループでは、パルスレース堆積法によって成長させた超伝導材料の有機スピンバルブとスピン分極電流の電気および磁気特性の研究に焦点を当て、磁性および超伝導試料のDCおよびAC輸送特性を明らかにしました。彼の専門知識は、生体分子研究のためのUHVで周波数変調方式の原子間力顕微鏡 にも及びます。

 

 

 

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope