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Lectures

30, Apr 21'
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La microscopía de fuerza de sonda Kelvin de banda lateral (KPFM) utiliza la intermodulación de una fuerza impulsora electrostática y una fuerza impulsora mecánica para co...
26, Mar 21'
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パーク・システムズ研究用AFMのオペレーションソフトウエアSmartScanのご紹介をライブ形式でお送りします。     パーク・システム...
18, Feb 21'
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Join us as the technical services engineer at Park Systems, explain the basics of SECCM and quantitative electroanalysis at the nanoscale using the Park NX12 AFM System. ...
22, Apr 21'
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18, Mar 21'
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9, Mar 21'
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Join us as the technical services engineer at Park Systems, explain the basics of SECCM and quantitative electroanalysis at the nanoscale using the Park NX12 AFM System. ...
4, Mar 21'
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26, Feb 21'
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Park Online NanoAcademy.jp 2021年の第一弾は、「コンダクティブAFM」と「Pinpoint モードとコンダクティブAFMの組み合わせ」についてご紹介をします。     ...
23, Feb 21'
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      Surface Potential Imaging via Sideband KPFM   REGISTER NOW Thursday, 23 February, 2021 11:00 am (PKT) Islamabad, Pakis...
18, Dec 20'
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AFMは表面形状の定量測定のみならず、フォース分光という手段を用いてマッピングすることもでき、AFMならではのナノ領域の機械特性マッピングと押し込み荷重が小さいことから薄膜系材料評価にもお使いいただけます。     パーク・システムズ #5 『フォース分光基礎、ナノ機械特性...

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope