Lectures
25, May 21'
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The target of this session is to help understand the interactions between tip and sample based on fundamental knowledge on principles of AFM. After all, some images which...
20, May 21'
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Sideband Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) uses the intermodulation of an electrostatic drive force and a mechanical drive force to upconvert the electrostatic frequen...
23, Apr 21'
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桜もそろそろ終わりですが、新年度のスタートということでAFM基礎part２をお届けいたします。
前回と重複する部分もありますが、その続きとして切り口を少し変えて、３種類の基本の形状測定がどのようなアプリケーション測定のベースになっているのか、 ということをそれぞれの測定モードの特徴を踏まえながらお話させていただき...
23, Jun 21'
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Interactive session will consist of demonstrating nanoindentation process (Set point & Z height). Differences in the result analysis will be explained. Demonstration ...
23, Jun 21'
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2, Jun 21'
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28, May 21'
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前回のAFM基礎コースPart２に引き続き、イメージングに必須のプローブについてお話します。
原子間力顕微鏡（AFM)のプローブを適切に選択することは、質の高いイメージを取得するために重要な過程の一つです。 一般に、AFMプローブは、シリコンチップ、チップから延びるカンチレバー（SiまたはSi3N4）、およびカンチレ...
25, May 21'
Webinars
Lecture topics will be reinforced through demonstration and practice of PinPoint nanomechanical imaging on a Park Systems NX series AFM. Emphasis will be put in the diffe...
12, May 21'
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Kelvin Probe Force Microscopy to Study Energy Levels and Charge Transport in Semiconductor Thin Films
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5
May 2021'
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