​ ​ 今回のパーク・システムズ　NanoAcademyは、研究用電気測定＃２で、前回のEFM,KPFMの続きとなります。前回のお話も含めて説明させていただきますので、今回が初めてという方もどうぞご参加ください。 メインは、新しくリリースされたSideBand FM方式のKPFMについてです。特に新しい手法である、サイド...

​ ​ 毎月お届けしておりますパーク・システムズNano academy、今回は 電気測定について特集します。電気測定は各AFMメーカー毎に少しずつ手法が異なります。 今回は電気力測定EFMと表面電位測定KPFMについてご紹介させていただきます。特に新しい手法である、サイドバンド・ケルビンプローブフォース顕微鏡（KPFM...

本讲座以多晶ZnO基TCO薄膜的耐湿热稳定性为出发点，结合静电力力显微镜（EFM: Electrical Force microscopy）研究ZnO薄膜的晶界稳定性对耐湿热性能的影响，展示了原子力显微镜在氧化物晶界研究中的巨大潜力     利用静电力显微镜研究...

In this session, a variety of AFM option mode is introduced for investigating sample’s properties such as electrical, mechanical, magnetic, thermal and electrochemical pr...

导电原子力显微镜（C-AFM）是在扫描探针显微镜（SPM）基础上扩展的一种电学测试模式，它可以同时实现在纳米级对样品（比如：介质材料、量子点、电子器件）表面形貌和局部电学性质的表征和测试。     导电原子力显微镜在电子器件纳米级电学测试中的应用 ...

In this session, the basic principles and the application of AFM which can be used in scientific and industrial fields are examined. In particular, we share the images me...

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近年来，由于其潜在的巨大应用价值，关于二维层状材料的基础和应用研究方兴未艾，核心工作是理解和控制其多种多样的有趣性质。之前的研究工作主要集中在二维材料的面内结构，多种多样的层间相互作用在调控其力学、电学、热学以及光学等性质方面也有重要作用。     二维材料界面...

This webinar will introduce Sideband KPFM, using F14H20 as an object of study for the surface potential measurements.     Surface Pot...

The Scanning Probe Microscope (SPM) is not only at the top of the list of equipment pioneering the nano-scale world, it is also the most fundamental technology. Succeedin...