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​ 桜もそろそろ終わりですが、新年度のスタートということでAFM基礎part2をお届けいたします。 前回と重複する部分もありますが、その続きとして切り口を少し変えて、3種類の基本の形状測定がどのようなアプリケーション測定のベースになっているのか、 ということをそれぞれの測定モードの特徴を踏まえながらお話させていただきます。 新しくAFMを始められる方、これから物性測定に挑戦される方必見です。 走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、ナノスケールの世界を開拓する機器であるだけではなく、最も基本的な技術でもあります。 SPMは、第1世代の光学顕微鏡と第2世代の電子顕微鏡に続き、ナノスケールの世界を観察することができるため、「第3世代」の顕微鏡としても知られています。同時に、サンプルを受動的に観察する手動型顕微鏡に比べて多くの利点があります。 SPMの起源は、走査型トンネル顕微鏡(STM)の発明です。 STMは、プローブチップと真空状態のサンプル間のトンネル電流を使用して、表面トポグラフィを測定します。そのため、導体または半導体サンプルしか測定できないという制限があります。しかし、原子間力顕微鏡(AFM)が開発されると、まったく新しい範囲の測定が可能になりました。空気中の非導体を測定するだけでなく、サンプルの表面の物理的、化学的、機械的、電気的、および磁気的特性を測定することも、溶液中の生細胞を測定することも可能です。 SPMは、未知数であるナノテクノロジーの世界に参入するための鍵であり、物理学、化学、生物学などの基礎科学や、機械工学や電気工学などの応用産業におけるさまざまな研究に不可欠です。

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope