Nanotech 2015展のご案内

パーク・システムズ・ジャパン（株）
営業部

l  会期 : 2015 1/28 水－ 1/30 金

l  場所 : 東京ビッ グサイト

l  Link : http://www.nanotechexpo.jp

l Nanotech 2015　Park AFM 最新技術セミナーのご案内

ブース：東京ビッグサイト　東６ホール６E－２６
６ホール　シーズ＆セミナーC 会場：１月３０日（金）13:15-14:00

SmartScan型 AFM OS＋PinPointナノ機械
特性マッピング機能が標準搭載されます！

拝啓
時下ますますご清祥の段、お慶び申し上げます。
平素は格別のご高配を賜り、厚くお礼申し上げます。

さて、2015年1月28日(水)～30日(金)の日程で、東京ビッグサイトにて第１４回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議（Nanotech2015）が開催されます。弊社パーク・システムズ・ジャパンも、同会場の東６ホール 6E-26のブースにて原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）製品を出展致します。

また、最終日３０日13:15-14:00に同東６ホール　シーズ＆セミナー　C会場にて“最新のノンコンタクト計測技術、従来型SPMの最大弱点の克服技術について”という演題でセミナーを開催させて頂きます。当日は、新しい計測モードも発表させていただく予定です。特に今回は“SmartScan”という新機能を発表致します。（詳細は、下記の説明を参照下さい。）更に、もう一つの新機能として”PinPoint　ナノ機械特性マッピング”も同時に発表します。
従来のラスタースキャン方式とは異なり、データ収集中はXYスキャンを完全停止し、また、このデータ収集時間も制御しますので、よりS/Nの高い正確な機械特性のマッピングが可能になります。
NX１０型、NX２０型には、上記の二つの機能が標準搭載されます。これにより、従来から備わっている性能と拡張性に対して、更に操作性とパワーも加えることができました。
ParkAFMは、このような様々な進化により皆様のAFM計測のアプリケーションに大きく貢献できるものと思います。

更に、新型真空SPM、高速QuickStep SCM,高感度電流測定モードのiAFM、ライフサイエンス用としては新型NX－Bioイオンコンダクタンス顕微鏡等、たくさんの新機能・システムがございます。

パーク・システムズ・ジャパンでは、他社には無い、真のノンコンタクト（非接触）ＡＦＭモードで正確な形状計測が可能なＡＦＭシステムを、リサーチ用から完全自動装置までフルラインナップでお客様へ提供しておりますので、ほとんどの皆様のニーズにベストフィットしたＡＦＭ・ＳＰＭシステムをご提案できます。

つきましては、ご招待状を送付させていただきましたので、ご来場の際には弊社ブース及びセミナー会場に是非お立ち寄りくださいますようお願い申し上げます。
ご来場を心からお持ちしております。
敬具