原子間力顕微鏡の技術について学ぶことができるウェビナー、教育映像など様々なコンテンツを提供します。
パーク・システムズは、グローバルな研究およびエンジニアリングのための先端計測機器でナノテクノロジーの革新を実現します。
弊社のSmall Sample AFMは、100mm×100mm以下の小型試料を扱う研究に不可欠です。これらのAFMは、ナノスケール探索の精度を再定義し、材料科学からナノエレクトロニクスまでさまざまな分野で科学的理解を深めるために必要不可欠です。AFM各製品にコア技術を組み込み、比類のない精度とノンコンタクトスキャンの利点、使いやすさを実現しています。また、特定の研究要件、環境、経済的な考慮事項に合わせてカスタマイズされたソリューションを提供します。Small Sample AFMラインナップは、詳細な表面イメージングとナノスケールでの高精度・高分解能測定を容易にします。
次世代の原子間力顕微鏡
ナノテクノロジー研究への最高の選択
最新のNXコンポーネントを搭載した経済的なエントリーモデルAFM
