Contact Sign In
  • JPN
  • ENG
  • KOR
  • CHN
  • 製品紹介

    • 研究・表面分析用AFM

      • 小型試料対応AFM
      • 大型試料対応AFM
      • 真空・バイオ用AFM
      • Nano-IRスペクトロメーター
      • オプション
      • オペレーティングシステム

    • インライン計測用AFM

      • ウェハーファブ用AFM
      • フォトマスクリペア
      • 先端パッケージング
      • フラットパネルディスプレイ向けAFM
      • 光学プロフィロメトリー
      • HDDメディア検査

    • エリプソメーター

      • イメージング分光エリプソメトリー
      • 参照分光エリプソメトリー
      • エリプソメトリ―アクセサリ

    • デジタルホログラフィック顕微鏡

      • Lyncée Reflection Series
      • Lyncée Transmission Series

    • 振動制御

      • 卓上型除振台
      • モジュール型防振エレメント
      • 実験台
      • アコースティックエンクロージャ
      • 大荷重対応プラットフォームと防振エレメント

    • Accessories

      • AFM プローブ
      • Nano Standard Samples
  • アプリケーション
    • 半導体
      ポリマー
      金属・セラミック
      薄膜
    • 生命科学
      AFMでしか評価できない表面
      二次元材料
      表面工学
    • 光学異方性膜
      フォトニクス
      ディスプレイ
  • ナレッジセンター
    • AFMの原理
      AFMモードおよび技法
      ウェビナー
      AFM イメージ
      Park AFM奨学金プログラム
  • サポート
    • テクニカルサポート・修理
      マニュアルおよびソフトウェア
  • News & Events
    • ニュースリリース
      イベント
      NANOscientific Symposium
  • 企業情報
    • 会社概要
      取締役会
      経営陣
      採用
      拠点一覧
  • 投資家情報
    • 株式情報
      IRニュース
      業績・財務情報
      配当方針
      ESG
프로필 이미지
Hello! Logout
My Supports My Post My Profile
Intra Portal Intra Wiki My Profile
  • 製品紹介
    • Back
    • View All 製品紹介
    • 研究・表面分析用AFM
    • インライン計測用AFM
    • エリプソメーター
    • デジタルホログラフィック顕微鏡
    • 振動制御
    • Accessories
    • お問い合わせ
  • アプリケーション
    • Back
    • View All アプリケーション
    • 半導体
    • ポリマー
    • 金属・セラミック
    • 薄膜
    • 生命科学
    • AFMでしか評価できない表面
    • 二次元材料
    • 表面工学
    • 光学異方性膜
    • フォトニクス
    • ディスプレイ
  • ナレッジセンター
    • Back
    • View All ナレッジセンター
    • AFMの原理
    • AFMモードおよび技法
    • ウェビナー
    • AFM イメージ
    • Park AFM奨学金プログラム
  • サポート
    • Back
    • View All サポート
    • テクニカルサポート・修理
    • マニュアルおよびソフトウェア
  • News & Events
    • Back
    • View All News & Events
    • ニュースリリース
    • イベント
    • NANOscientific Symposium
  • 企業情報
    • Back
    • View All 企業情報
    • 会社概要
    • 取締役会
    • 経営陣
    • 採用
    • 拠点一覧
    • クッキーポリシー
    • Imprint
  • 投資家情報
    • Back
    • View All 投資家情報
    • 株式情報
    • IRニュース
    • 業績・財務情報
    • 配当方針
    • ESG
Sign In
  • JPN
  • ENG
  • KOR
  • CHN
  • Contact Us
  • Privacy Policy
  • Imprint
  • Copyright © 2024 Park Systems. All Rights Reserved.
    • Contact Us
    • Privacy Policy
    • Imprint
製品紹介

デジタルホログラフィック顕微鏡

Park SystemsのLyncéeシリーズは、非接触・高速で3D表面トポグラフィーを測定するデジタルホログラフィック顕微鏡です。デジタル再構成ホログラム技術により、比類のない高速・定量的な3Dイメージングを実現します。 サブナノメートル級の垂直解像度と瞬時の広視野データ取得を特徴とする「Lyncée」シリーズは、　リアルタイムの動的解析（4Dイメージング）や、高スループットが求められる産業用計測に最適です。

  • 製品紹介
  • デジタルホログラフィック顕微鏡

Lyncée Reflection Series

時間分解型・高度トポグラフィソリューション

Lyncée Transmission Series

生命科学および材料科学向けリアルタイム定量イメージング

  • Park Systems Facebook
  • Park Systems LinkedIn
  • Park Systems YouTube Channel
  • Park Systems X (Twitter)
  • Contact Us
  • Newsletter
  • Imprint
  • Privacy Policy
  • Social Media
    • FACEBOOK
    • LINKEDIN
    • YOUTUBE
    • X
  • 製品紹介
    • 研究・表面分析用AFM
    • インライン計測用AFM
    • エリプソメーター
    • デジタルホログラフィック顕微鏡
    • 振動制御
    • Accessories
  • アプリケーション
    • 半導体
    • ポリマー
    • 金属・セラミック
    • 薄膜
    • 生命科学
    • AFMでしか評価できない表面
    • 二次元材料
    • 表面工学
    • 光学異方性膜
    • フォトニクス
    • ディスプレイ
  • ナレッジセンター
    • AFMの原理
    • AFMモードおよび技法
    • ウェビナー
    • AFM イメージ
    • Park AFM奨学金プログラム
  • サポート
    • テクニカルサポート・修理
    • マニュアルおよびソフトウェア
  • News & Events
    • ニュースリリース
    • イベント
    • NANOscientific Symposium
  • 企業情報
    • 会社概要
    • 取締役会
    • 経営陣
    • 採用
    • 拠点一覧
  • 投資家情報
    • 株式情報
    • IRニュース
    • 業績・財務情報
    • 配当方針
    • ESG
  • Copyright © 2024 Park Systems. All Rights Reserved. 京ICP备2020037944号 韩国帕克股份有限公司北京代表处
    • Contact Us
    • Newsletter
    • Imprint
    • Privacy Policy
    • Do Not Sell or Share My Data