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AFMは表面形状の定量測定のみならず、フォース分光という手段を用いてマッピングすることもでき、AFMならではのナノ領域の機械特性マッピングと押し込み荷重が小さいことから薄膜系材料評価にもお使いいただけます。

 
 
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パーク・システムズ #5 『フォース分光基礎、ナノ機械特性測定 PinPointモードについて』

2020年12月18日 金曜日

  • 4:00 pm – 4:40 pm
    (JST)
    東京
  • 3:00 pm – 3:40 pm
    (SGT)
    シンガポール
  • 4:00 pm – 4:40 pm
    (KST)
    ソウル
  • 9:00 am – 9:40 am
    (CEST)
    パリ、ローマ

ナノテクノロジーは、原子および分子スケールでの物質の操作に基づく最新の研究分野の一つです。ナノ構造の進歩に起因するイノベーションは、研究と産業において多くの技術的な進歩をもたらし、研究の幅を広げるのにも貢献しています。

AFMは表面形状の定量測定のみならず、Force -Distanceカーブを使って探針と試料表面の機械的な相互作用力を定量的に測定することができます。

さらにフォース分光という手段を用いてマッピングすることもできます。AFMならでは、のナノ領域の機械特性マッピングと押し込み荷重が小さいことから薄膜系材料評価にもお使いいただけます。

発表者:後藤 千絵、パーク・システムズ・ジャパン株式会社 技術部 分析チーム

1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。

 

 

 

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope