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桜もそろそろ終わりですが、新年度のスタートということでAFM基礎part2をお届けいたします。
前回と重複する部分もありますが、その続きとして切り口を少し変えて、3種類の基本の形状測定がどのようなアプリケーション測定のベースになっているのか、 ということをそれぞれの測定モードの特徴を踏まえながらお話させていただきます。

 
 
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パーク・システムズ#8
研究⽤AFM: 原子間力顕微鏡とは
AFM基礎コース Part 2

2021年4月23日 金曜日
4:00 pm – 4:45 pm (JST)
東京 日本
※This Webinar will be presented in Japanese

桜もそろそろ終わりですが、新年度のスタートということでAFM基礎part2をお届けいたします。

前回と重複する部分もありますが、その続きとして切り口を少し変えて、3種類の基本の形状測定がどのようなアプリケーション測定のベースになっているのか、 ということをそれぞれの測定モードの特徴を踏まえながらお話させていただきます。

新しくAFMを始められる方、これから物性測定に挑戦される方必見です。

走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、ナノスケールの世界を開拓する機器であるだけではなく、最も基本的な技術でもあります。 SPMは、第1世代の光学顕微鏡と第2世代の電子顕微鏡に続き、ナノスケールの世界を観察することができるため、「第3世代」の顕微鏡としても知られています。同時に、サンプルを受動的に観察する手動型顕微鏡に比べて多くの利点があります。

SPMの起源は、走査型トンネル顕微鏡(STM)の発明です。 STMは、プローブチップと真空状態のサンプル間のトンネル電流を使用して、表面トポグラフィを測定します。そのため、導体または半導体サンプルしか測定できないという制限があります。しかし、原子間力顕微鏡(AFM)が開発されると、まったく新しい範囲の測定が可能になりました。空気中の非導体を測定するだけでなく、サンプルの表面の物理的、化学的、機械的、電気的、および磁気的特性を測定することも、溶液中の生細胞を測定することも可能です。

SPMは、未知数であるナノテクノロジーの世界に参入するための鍵であり、物理学、化学、生物学などの基礎科学や、機械工学や電気工学などの応用産業におけるさまざまな研究に不可欠です。

発表者: 
後藤 千絵、パーク・システムズ・ジャパン株式会社
技術部 分析チーム

1991年から現在まで29年間をAFMと共にしてきた後藤は、2012年にNEDOの研究員として、 千葉大学で燃料電池の研究に携わってきた。日常のデモンストレーション以外にも、これまでに多くのOn Siteセミナー、 ユーザートレーニングの実施や日本の顧客向けにオリジナルガイドブックの作成に手をかけている。  

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope