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开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术,被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果,或者,校准后,测量样品的功函数。KPFM 广泛用于研究和工业中,用于对各种应用(如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备)的功函数变化进行成像。 在本次网络研讨会中,我们将展示开尔文探针力显微镜 (KPFM) 在 Park FX40全自动化原子力显微镜上的原理和应用。

Park Lectures - Park Atomic Force Microscope