|고객문의  Global
  • Park
    PTR Series
    AFM Options
 

Productivity meets Accuracy

Automatic Tip Exchange

Park Systems의 자동 팁 교체 시스템은 자동화 측정 절차를 중단 없이 매끄럽게 지속시키기 위해 팁을 완전히 자동으로 교체합니다. 자동 팁 교체 시스템은 자동적으로 캔틸레버의 위치를 보정하며 레퍼런스 패턴을 측정한 결과에 따라 측정 세팅을 최적화합니다. 이는 독창적인 자력 방식으로, 팁 교환 성공률이 99%이기 때문에 사용자의 많은 관리를 요구하지 않습니다.

atx-video

Automatic Laser Beam Alignment

Park Systems의 자동 레이저 빔 정열은 사용자 입력 없이 자동화 측정 절차를 중단없이 매끄럽게 지속시킵니다. 미리 정렬된 캔틸레버 홀더에 의해 레이저 빔은 자동 팁 교체를 통하여 캔틸레버에 집중됩니다. 자동 포지셔닝 손잡이에 의해 레이저 스팟은 X, Y축을 따라 이동하며 최적화됩니다.

laser-alignment

Customize your AFM to make it more efficient and more effective

Customized Sample Fixture

Park Systems can prepare customized sample fixtures to support customers’ specific samples, row bars or individual sliders. The customized sample fixture can provide a better connection between the measuring sample and the NX-PTR for increased accuracy.

 

customized-sample-fixture

Customized HGA Fixture

HGA fixtures can be custom built to firmly fit a specific HGA design provided by the customer, offering a more stable fixture. The non-damaging fixture allows users to easily load and unload the entire HGA, without causing any damage to the HGA. HGA then can be dismounted, and further tested. Up to 5 HGA samples of the same type can be mounted at the same time.

Customized-HGA-Fixture

Ionization System for a more stable scanning environment

혁신적인 이온화 시스템은 샘플에 있는 정전기를 효과적으로 제거합니다. 이 시스템은 대전된 물체를 이온화하며 주위 공간을 전혀 오염시키지 않고 양이온과 음이온을 끊임없이 발생시켜 이상적인 균형 상태를 유지하므로 안정성이 매우 높습니다. 또한 시료 취급 시 우발적으로 발생할 수 있는 정전기 축적을 줄입니다.

NX-HDM Ionization-System
 

Park PTR - Options | Park Atomic Force Microscope