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SPM(Scanning Probe Microscope)은 나노 세계를 열어주는 최상의 장비이자, 가장 근본적인 기술입니다. 1세대 광학현미경과 2세대 전자현미경을 잇는 제3세대 현미경으로 알려진 SPM은 STM(Scanning Tunneling Microscope)의 발명에서 시작되었습니다.
STM은 프로브 팁과 진공 상태의 시료 사이의 터널링 전류를 사용하여 표면 토포그래피를 측정하므로 전도체 측정에만 국한되나, AFM이 개발되면서 다양한 범위의 측정이 가능하게 되었습니다. 대기 중의 부도체는 물론, 시료 표면의 물리적, 화학적, 기계적, 전기적, 자기적 특성 그리고 액상에서 살아있는 세포를 측정하는 것도 가능하게 되었습니다.

AFM은 나노기술 시대를 열어가는 중요한 도구이며, 나노과학기술연구 뿐 아니라, 첨단기술 제품개발 및 품질관리, 반도체 생산공정 등 다양한 분야에서 널리 활용되고 있습니다.

이번 웨비나에서는 AFM의 기본 원리 및 활용 방법에 대해 소개할 예정입니다.

AFM에 대해 더 자세히 알고 싶으신 분들은 지금 바로 등록해주세요!