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Electrical Modes

컨덕턴스, 샘플 저항, 기타 전기적 및 형상 특성에 대한 정확한 정보를 필요로 하는 사용자를 위해 파크시스템스는 다양한 전기 특성 모드를 갖추고 있습니다.

PinPoint™ AFM Nanoelectrical Modes

"핀포인트™ 컨덕티브AFM에서는 전류의 측정에 있어서 수평의 간섭에 의한 에러를 최소화하여 최고의 분해능 및 감도를 실현합니다.

Conductive AFM (C-AFM)

샘플 표면의 국소 전자 구조를 조사합니다.

IV Spectroscopy

시료 이미지를 얻은 후 선택한 시료 영역에서 IV 커브를 측정합니다.

Electrostatic Force Microscopy (EFM)

정전기력의 고해상도 및 고감도 이미징을 구현합니다.

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)

표면 전위의 고해상도 및 고감도 이미징을 구현합니다.

Dynamic Contact EFM (DC-EFM)

정전기력의 고해상도 및 고감도 이미징을 구현합니다.

Piezoresponse Force Microscopy (PFM)

시료 이미지에 더하여 나노미터 스케일의 전기기계적 재료 특성을 측정합니다.

Piezoresponse Force Spectroscopy

팁과 샘플 표면 사이의 DC 바이어스에 대한 국소적인 진폭/위상 반응을 측정합니다.

QuickStep™ SCM

퀵스텝™은 SCM 데이터 취득을 고속화합니다.

Scanning Capacitance Microscopy (SCM)

전하 분포의 고해상도 및 고감도 이미징을 구현합니다.

Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)

시료 표면의 국소 전자 구조를 조사합니다.

Scanning Tunneling Microscopy (STM)

시료 표면의 국소 전자 구조를 조사합니다.

Photo Current Mapping (PCM)

이 모드는 감광성 재료 연구에 혁신을 가져올 수 있습니다.