Park FX40 IR
스몰 샘플 나노화학 분석을 위한 비접촉식 AFM 플랫폼
Park FX40 IR은 나노스케일 적외선 분광 및 이미징을 위한 첨단 AFM 솔루션입니다. 소형 샘플 측정에 최적화된 검증된 FX40 플랫폼을 기반으로 설계되어, 낮은 노이즈 플로어, 최소화된 열 드리프트, 향상된 기계적 안정성을 바탕으로 뛰어난 정밀도와 신뢰성을 제공합니다. 또한 화학적 특성 분석과 표면 특성 분석을 동시에 지원하여 나노스케일에서 보다 정밀한 물질 특성 분석이 가능합니다.
FX40 IR은 광유도력 현미경(PiFM) 기반의 나노 IR 분광기로, 나노스케일 IR 분광 분석과 화학 이미징을 지원합니다. 모든 Park AFM 제품과 마찬가지로 FX40 IR은 직교 스캔 시스템과 True Non-contact™ 모드를 탑재하고 있어, 손상되기 쉬운 샘플에서도 시료 손상 없이 안정적이고 일관된 측정이 가능합니다. 또한 자동 프로브 교체, IR 빔 자동 정렬, 샘플 뷰 카메라, 다중 위치에서의 순차 측정 기능을 통해 복잡한 측정 작업도 보다 쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다.
FX40 IR은 고성능 AFM과 첨단 IR 기능을 단일 플랫폼에 통합하여, 정밀성과 효율성을 갖춘 나노스케일 화학 분석 환경을 제공합니다.
FX40 IR은 광유도력 현미경(PiFM) 기반의 나노 IR 분광기로, 나노스케일 IR 분광 분석과 화학 이미징을 지원합니다. 모든 Park AFM 제품과 마찬가지로 FX40 IR은 직교 스캔 시스템과 True Non-contact™ 모드를 탑재하고 있어, 손상되기 쉬운 샘플에서도 시료 손상 없이 안정적이고 일관된 측정이 가능합니다. 또한 자동 프로브 교체, IR 빔 자동 정렬, 샘플 뷰 카메라, 다중 위치에서의 순차 측정 기능을 통해 복잡한 측정 작업도 보다 쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다.
FX40 IR은 고성능 AFM과 첨단 IR 기능을 단일 플랫폼에 통합하여, 정밀성과 효율성을 갖춘 나노스케일 화학 분석 환경을 제공합니다.
핵심 기능
FX40 IR은 고성능 AFM과 첨단 IR 기능을 단일 플랫폼에 통합해 정밀성과 효율성을 갖춘 나노스케일 화학 분석 환경을 제공합니다. Park FX40 플랫폼과 Park 나노 IR 분광 기술의 주요 기능은 각 전용 페이지에서 자세히 확인할 수 있습니다.
안정적인 나노 IR 분석
Park AFM 기술
광유도력 현미경
광유도력 현미경(PiFM)은 조절식 IR 레이저로 유도된 분자 진동에서 발생하는 광유도력을 감지합니다. Park FX40 IR의 AFM 캔틸레버는 Non-contact™ 모드로 샘플에 접촉하지 않고 국소 IR 흡수를 측정하여, 5 nm 이하의 공간 분해능과 단층 민감도로 스펙트럼 및 화학적 맵핑을 구현합니다.
필요에 따른 나노 IR 확장성
연구 환경에 대응하는 유연한 업그레이드
플랫폼 교체 없이 필요한 시점에 나노 IR 기능을 추가할 수 있습니다. 연구 방향과 투자 계획의 변화에 맞춰 단계적으로 확장할 수 있는 유연한 업그레이드 옵션을 제공합니다.
