Park NX10
The Premiere Choice for Nanotechnology Research
파크시스템스의 NX10은 최상의 나노 단위의 해상도로, 믿을 수 있는 동일한 데이터를 제공합니다. 샘플 세팅부터 이미지 스캔, 측정, 분석에 이르기까지 모든 단계에서 시간을 줄일 수 있습니다. 사용자는 더 많은 시간과 더 나은 데이터를 기반으로, 혁신적인 연구에 집중할 수 있을 것입니다.
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Accurate and Easiest to Use AFM
파크시스템스의 NX10은 최상의 나노 단위의 해상도로, 믿을 수 있는 동일한 데이터를 제공합니다. NX10은 세계에서 유일하게 탐침(tip)의 수명을 연장시키는 비접촉 방식이 특징입니다. 이는 탐침의 수명을 연장시킴과 동시에 최고의 정확성과 해상도를 구축하기 위해 샘플과 독립적인 XY와 Z 스캐너에 기반을 둔 플렉서(flexure)를 보존합니다. 샘플 세팅부터 이미지 스캔, 측정, 분석에 이르기까지 모든 단계에서 시간을 줄일 수 있습니다. 사용하기 쉬운 인터페이스, 간편한 레이저 정렬, 자동적인 팁 접근법, 그리고 분석 소프트웨어는 연구 결과를 신속하게 얻을 수 있도록 도와줄 것입니다. 독립 연구자와 사용자 시설 모두에게 Park NX10 AFM은 경제적이면서도 다용도 플랫폼을 제공하여 사용의 용이성과 고해상도 기능을 갖추고 있으며, 본질적으로 왜곡 없는 재현 가능한 이미지를 생성하도록 설계되었습니다. Park NX10은 쉬운 팁 교환과 SmartScan 소프트웨어의 원클릭 이미징 및 사전 프로그래밍된 고급 모드를 지원합니다. 지형 이미징을 나노스케일의 전기, 자기, 열 및 기계적 특성의 재료 특성화와 결합시킨 Park NX10은 첨단 재료 과학 연구를 위한 최고의 선택입니다.
사이드 접근을 용이하게 하는 독특한 헤드 디자인은 사용자가 손으로 새로운 탐침과 샘플교체를 쉽게 합니다. 또한, 캔틸레버 팁 홀더에 부착된 미리 조정된 캔틸레버를 이용하여 스캔을 할 수 있기 때문에 까다로운 레이저 빔 정렬이 필요 없습니다.
팁에서 샘플까지의 자동적 접근법은 사용자 개입을 요구하지 않으며 캔틸레버에 하중을 가한 후 10초 이내로 작동될 수 있게 맞물립니다. 접근표면에 대한 캔틸레버 반응을 관찰함으로써, Park Systems의 NX10은 굽힘 하중을 팁에서 샘플까지의 자동적 접근법으로 10초 내에 시작할 수 있습니다. 빠른 속도를 갖는 Z 스캐너의 신속한 피드백과 NX 전자 컨트롤러가 처리하는 낮은 노이즈 신호는 사용자 개입 없이 샘플표면에 대한 빠른 정렬을 가능하게 합니다. 이는 최소한의 사용자 참여만을 요구합니다.
레이저 빔은 미리 조정된 캔틸레버 홀더에 의하여 캔틸레버에 위치 됩니다. 더욱, 축 중심 탑-다운 뷰는 레이저 스팟을 쉽게 발견할 수 있게 합니다. 이는 레이저 빔이 캔틸레버에 수직으로 떨어지므로, 사용자는 두 개의 손잡이를 회전시켜 레이저 스팟을 X, Y축에 따라 움직이게 할 수 있습니다. 결과적으로 사용자는 빔-얼라이먼트 사용자 인터페이스를 이용하여 레이저를 쉽게 발견할 수 있으며, PSPD에 수월하게 배치할 수 있습니다. 여기서부터는 시그널의 최대화를 위한 약간의 조정만이 필요합니다.
Key Features
Unparalleled accuracy and high-resolution imaging with industry-leading low-noise
Park NX10 produces data you can trust, replicate, and publish at the highest nano resolution. It is equipped with the most effective low-noise Z detectors in the field, with a noise of 0.02 nm over a large bandwidth. This produces highly accurate sample topography and no edge overshoot.
Comprehensive range of AFM modes for Diverse Applications
The Park NX10 is meticulously crafted to address the demands of diverse metrology and analysis applications. It stands out with its comprehensive range of modes, presenting an extensive toolkit for researchers across various fields. From standard imaging to electrochemical analysis, the instrument seamlessly supports a multitude of AFM modes, showcasing its adaptability to a wide array of applications. With the Park NX10, researchers can confidently explore and delve into their scientific inquiries, benefiting from a versatile and reliable tool that enhances the precision and efficiency of their work.
Flexible Open-Access, Customizable for Cooperating with Various Research Environments
Park NX10 allows users to effortlessly tailor settings for their unique research environments, by offering a diverse range of options and accessories that make it seamlessly adapt to them: optimized options for thermal and chemical properties, etc.
Built for Electrochemical Analysis
Park NX10 is designed to address a wide spectrum of research and analysis applications, with particular optimization for electrochemical properties. This cutting-edge instrument offers a range of optional modes tailored for diverse functionalities in electrochemical analysis. With tailored functionalities for each mode, it provides a comprehensive suite of capabilities to meet the diverse needs of scientific exploration and analysis in electrochemistry.