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2023 Park Systems AFM Image Contest

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파크시스템스는 Park Systems AFM 고객을 대상으로 원자현미경 이미지 콘테스트를 진행합니다.
 
이미지 콘테스트를 통해 여러분의 멋진 이미지를 소개하고 다양한 혜택을 누리시기 바랍니다. 
채택된 이미지들은 파크시스템스 웹사이트 AFM Image Gallery에 게재되며, 그 외에도 연구 결과를 홍보할 수 있는 다양한 혜택을 제공합니다.
 
특별히 10건의 우수이미지를 선정하여 연구활동에 필요한 AFM Cantilever 또는 User 정기교육권을 드립니다. (20~50만원 상당)

 

  
⏺️ 신청기한: 2024년 2월 29일(목)까지 연장!  접수 마감
 
⏺️ 신청대상: 파크시스템스 AFM(원자현미경) 사용 고객
 
⏺️ 신청방법: 신청접수 버튼 클릭 ► 신청서 작성하여 제출
 
⏺️ 심사기준
       - 학술적 의미
       - 품질(측정 조건 및 이미지 처리의 적절성)
       - 예술성
 
⏺️ 심사위원: 파크시스템스 Application Scientist
 
⏺️ 선정혜택: 파크시스템스 웹사이트 AFM Image Gallery 게재, NANOscientific 매거진 소개, 파크시스템스 벽걸이/탁상 달력에 소개, 연구결과를 홍보할 수 있는 특별 인터뷰 기회 제공 등
 
⏺️ 당첨발표: 신청기한 종료 후, 1달 이내
 
► 채택된 이미지는 파크시스템스 웹사이트 AFM Image Gallery에 게재됩니다.
► 제출하신 이미지는 파크시스템스 이미지 갤러리, 매거진 등 마케팅 자료에 사용될 수 있습니다.

 

우수 이미지로 선정되신 분들에게는 캔틸레버 또는 정기교육권을 드립니다!

#AFM Cantilever 캔틸레버(10개 세트) 

PPP-NCHR (10ea.) with Mounted Type
AFM 측정 시, 기본적으로 가장 많이 사용하는 캔틸레버 ► 참고 링크 Park Probe Store

 

#AFM User Training 정기교육권(Basic or Option)

Basic User Training - AFM의 기본 원리 및 실습(Contact, Non-contact, Tapping mode)
Option mode User Training - Electrical modes, Mechanical modes, Other modes
 
► 참고 링크 Park AFM User Training
 
 
※ 문의: raina@parksystems.com
 

Park AFM Image Contest 신청서
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