表面粗さ計測は、 Park NX20が正確な故障解析と優れた品質保証を提供する 重要なアプリケーションの一つです。

QuickStep™ SCM: 最速のスキャンキャパシタンス顕微鏡 PinPoint™ AFM: 摩擦のないコンダクティブAFM

CrN（いわゆる先端チェックサンプル）は、鋭い先端をすぐに摩耗させるほど非常に粗い表面を持っていますが、真のノンコンタクト™モードを使うことで、CrNを200回イメージングしても、先端は摩耗せず、先端の鋭さを維持します。

弊社のAFMは、業界で最も効果的な低ノイズZ検出器が装備されており、広い帯域幅で0.02 nmのノイズが発生します。これにより、非常に正確なサンプルトポグラフィーを取得することができ、エッジオーバーシュートもなく、キャリブレーションの必要もありません。Park AFMを使うことで、時間を節約することができ、より優れたデータを得ることができます。