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14, Jul 21'
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In this webinar, we present how Park Systems’ PinPoint mode measures high-speed force-distance curves for each pixel which allows to study the mechanical properties like ...
23, Jun 21'
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Interactive session will consist of demonstrating nanoindentation process (Set point & Z height). Differences in the result analysis will be explained. Demonstration samp...
23, Jun 21'
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2, Jun 21'
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25, May 21'
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Lecture topics will be reinforced through demonstration and practice of PinPoint nanomechanical imaging on a Park Systems NX series AFM. Emphasis will be put in the diffe...
12, May 21'
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Kelvin Probe Force Microscopy to Study Energy Levels and Charge Transport in Semiconductor Thin Films
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May 2021'
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23, Apr 21'
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桜もそろそろ終わりですが、新年度のスタートということでAFM基礎part２をお届けいたします。
前回と重複する部分もありますが、その続きとして切り口を少し変えて、３種類の基本の形状測定がどのようなアプリケーション測定のベースになっているのか、 ということをそれぞれの測定モードの特徴を踏まえながらお話させていただき...
8, Apr 21'
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本次网络研讨会将解释SECCM的基础原理和应用，并将详细讨论如何用Park NX系列AFM在高定向热解石墨(highly oriented pyrolytic graphite，HOPG)上用SECCM 形成的纳米液滴电化学池来研究 [Ru (NH3)6]3+ 在纳米尺度的反应。
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26, Mar 21'
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SmartScan™ Autoモードは、イメージングに必要なすべての操作を自動的に実行し、最適な画質とスキャン速度をすべて自律的に賢く判断することで時間とコストの削減ができ、より効率的に研究結果を得ることができます。
SmartScan のAuto機能は、(a)データのピクセル数 (b)スキャンサイズ (c)クオ...