AFM Webinar - PinPoint 모드를 이용한 시료의 나노 기계적 특성 평가
SPEAKERS
  • 오예진 연구원
    Park Systems Corp., Suwon, Republic of Korea
Authors
오예진 연구원



AFM(Atomic Force Microscopy)은 탐침과 시료 표면 원자 간의 상호작용력을 이용하여 시료 표면의 형상 뿐만 아니라 전기적, 자기적, 기계적, 광학적 및 열적 특성들을 관찰할 수 있게 해줍니다. 이처럼 다양한 범위의 특성을 나노 스케일에서 측정하기 때문에 AFM은 현재 여러 분야에 널리 활용되고 있습니다.

파크시스템스의 PinPoint 모드는 시료의 표면 형상과 함께 물질의 다양한 기계적 특성을 측정할 수 있어, 관련 연구 분야에 널리 활용되고 있습니다.
PinPoint 모드는 force-distance spectroscopy (탐침을 시료 표면에 접촉시켰다 떨어뜨리며 탐침과 시료 간의 상호 작용 측정)를 기반으로 하는 측정 모드로 시료 표면의 국소 영역에 대한 stiffness, adhesion, Young’s modulus 등의 기계적 특성을 이미지화 할 수 있습니다.
또한 Conductive AFM (C-AFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM) 등의 응용 모드와 결합하여 시료의 기계적 특성과 더불어 전기적 특성을 함께 측정할 수 있습니다.

이번 웨비나에서는 PinPoint 모드의 이론과 측정 방법, 정량적인 modulus 값을 얻기 위한 calibration 방법, PinPoint C-AFM, PinPoint PFM을 이용하여 측정한 이미지들을 소개할 예정이니 많은 관심과 참가 바랍니다.

*언어: 한국어
×