AFM characterization by SICM-SECM technique - November 29, 2019 (Spanish/español)
Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) utiliza una pipeta con una apertura a escala nanométrica. La corriente de iones entre el interior y el exterior de la pipeta en solución acuosa cambia según la distancia desde la punta de la nanopipeta hasta la superficie. La topografía se adquiere mediante el uso de un controlador de retroalimentación para mantener constante la corriente de iones.