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讲座摘要：  开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术，被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果，或者，校准后，测量样品的功函数。为此，KPFM 使用与 EFM 相同的基本实验配置。在向尖端和样品施加交流电压时，悬臂会受到机械激励。同时，第二个锁定放大器通过施加额外的直流偏置来补偿样品和悬臂之间的电位差。因此，反馈信号可用于创建表面电位图。KPFM 广泛用于研究和工业中，用于对各种应用（如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备）的功函数变化进行成像。      在本次网络研讨会中，我们将现场展示(live demo)开尔文探针力显微镜 (KPFM)  在 Park NX20原子力显微镜上的原理和应用。