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5, Sep 23'
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The thickness and optical properties of thin films are critical to the performance and reliability of micro- and nanoelectronics devices. As features are constantly getti...
27, Jul 23'
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溶液中の環境を必要とする材料のAFM測定について。 カンチレバーを使った技術、ピペットを使った技術、電気化学測定を含めた溶液中測定について詳しくお話いたします。 AFMのフレキシブルな環境対応について知りたい方、また従来のカンチレバー以外のピペット法について知りたい方におすすめの講義です。
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5, Jul 23'
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Thickness and optical properties of thin films are critical to the performance and reliability of micro- and nanoelectronic devices. As features are constantly getting sm...
30, Jun 23'
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The AFM tip is the part of the AFM setup that interacts directly with the sample surface. . The tip itself is the most precise and delicate component of an AFM probe. Tip...
22, Jun 23'
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AFMで正確な像を得るための重要な作業の一つ、サンプルプレパレーション。 昨年パーク・システムズ本社から発行された『ユーザーハンドブック』より、様々な試料調整方法をご紹介いたします。 測定を成功させるために、測定対象物によってどのようにサンプルの調整・固定をすればよいか、 実習も交えて丁寧に解説いたします。 どのようにサンプルを調整したら...
21, Jun 23'
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纳米红外光谱分析系统在化学分析及材料成像的应用光诱导力显微镜 (PiFM) 能提供高分辨率红外光谱，其与传统的FTIR(傅里叶变换红外光谱)保持着密切的相关性，结合AFM 平台，其PiFM 光谱 可达10 nm 空间分辨率下的化学鉴定。此外，Park PiFM 亦可提供不同深度的光谱信息，提供对样品成分的更多资讯。
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23, May 23'
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Scanning Probe Microscopy (SPM) evolved with the invention of Scanning Tunnelling Microscope (STM). Later, with the development of the Atomic Force Microscope (AFM), topo...
25, Apr 23'
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The tip of an atomic force microscope (AFM) is at the heart of the instrument as it interacts with the sample surface and hence proper probe selection is critical for obt...
20, Apr 23'
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今年も新年度・新学期に合わせましてAFM基礎ウェビナーを開催いたします！昨年4月に実施した初級講座をさらに分かりやすい内容にいたしました。これからAFMを使い始める方、普段のオペレーションに自信の無い方、ハードウエア・ソフトウエアのことをもっと知りたい方などなど、基本の形状測定から学んでいただけるチャンスです。
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27, Mar 23'
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Atomic Force Microscope (AFM) is an indispensable tool in the field on nanotechnology to map nanometre sized features and physical properties of the sample surface. AFM c...